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ロンリ ト テスト
論理とテスト / 樹下行三[ほか]著
(岩波講座マイクロエレクトロニクス / 元岡達[ほか]編 ; 4 ; VLSIの設計 ; 2)

Material Type Books
Publisher 東京 : 岩波書店
Year 1985.5
Language Japanese
Size x, 313p ; 22cm

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2F reading room
548.208/I/4 1118704933
4000101846

B2F stack room
548.208/I/4 1118501220
4000101846

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Notes 参考書:p303~305
Authors  樹下, 行三(1936-) <キノシタ, コウゾウ>
Subjects NDLSH:集積回路
Classification NDLC:ND351
NDLC:ND386
NDC8:549
NDC7:549.92
ID 6000134617
ISBN 4000101846
NCID BN00059257

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